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JK2663系列四探针方块电阻测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。仪器选配 U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据,方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于半导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种半导体、类半导体材料、导体材料及各种新材料的导电性能的测试。
适用范围： 适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻。
产品描述: 电阻测试范围:1uΩ-2MΩ;方阻测试范围: 1uΩ/□-2MΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测范围及被测件尺寸。
型号 | JK2663A | JK2663 | JK627C |
测量范围 | 1μΩ/□～2MΩ/□ | 10μΩ/□～200kΩ/□ | 10μ/□Ω-200kΩ/□ |
电阻率 | 1μΩ～2MΩ.cm | 10μΩ～200k.cm | 10μΩ～200k.cm |
电导率 | 1μΩ～2M s/cm | 10μΩ～200k s/cm | 10μΩ～200k s/cm |
基本精度 | 电阻：0.05%方阻/电阻率：3% | ||
读数位数 | 5 1/2位 最大120000 数显示位数 | ||
测量速度 | 4-35次/秒 | ||
测量参数 | 电阻、方阻、电阻率、电导率 | ||
测量模式 | 点测 、面测 | ||
校准功能 | 短路清零，归零，负载校正 | ||
测试端配置 | 四端(2个检测端+2个驱动端) 和外部屏蔽接地 | ||
显示器 | 4.3寸真彩色，分辨率为480×272的TFT LCD | ||
存储器 | U盘500多组 | ||
接口 | 标配 RS232C HANDLER、USB HOST | ||
标准配件 | J2663-3四探针方阻测试探头（直线型2mm间距）,电源线，保修卡，通讯软件 | ||
可选配件 | J2663-2 J2663-1四探针测试探头 | ||
尺寸 | 上架尺寸：215mm×87mm×335mm 外形尺寸：235mm×105mm×360mm 净重：4KGS | ||
标配附件
AC电源线
RS232通讯线缆
PLC接线端子
58006D 四探针测试探头(直线2mm)
选配附件
58001H 手持式四探针测试台
58002 四探针测试探头(直线1mm)
58006A 四探针测试探头(直线1mm)
58005E 四探针测试探头(直线2.5mm)
58016A 四探针测试探头(矩形1mm)
58016D 四探针测试探头(矩形2mm)
58001 四探针测试台
